Расчет распределения примесей в кремнии при кристаллизационной очистке и диффузионном легировании

Реферат - Радиоэлектроника

Другие рефераты по предмету Радиоэлектроника

Государственный комитет РФ по высшему образованию

 

Новгородский Государственный университет

им. Ярослава Мудрого

 

Кафедра физики твердого тела и микроэлектроники

 

 

 

 

 

 

 

”РАСЧЕТ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ПРИМЕСЕЙ

В КРЕМНИИ ПРИ КРИСТАЛЛИЗАЦИОНОЙ ОЧИСТКЕ

И ДИФФУЗИОННОМ ЛЕГИРОВАННИИ”

 

 

 

Пояснительная записка

к курсовой работе

по дисциплине

”Физико-химические основы технологии микроэлектроники”

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Выполнил

Студент группы 7033у

Н.Е.Родин

Проверил

Преподаватель кафедры ФТТМ

Б.М.Шишлянников

 

 

 

1998

 

Техническое задание

на курсовую работу по дисциплине

Физико-химические основы технологии микроэлектроники

 

Студенту гр. 7033 Родину Н.Е.

1. Рассчитать распределение примесей вдоль слитка полупроводникового материала при очистке зонной плавкой (один проход расплавленной зоной).

материал кремний

примеси - Ga,P и Sb

исходное содержание примесей (каждой) 0,02% (массовых)

Для трех скоростей перемещения зоны Vкр =1,5 ; 5 и 15 мм/мин.

2. Проанализировать бинарную диаграмму состояния Si -Ga и представить графически область существования твердых растворов примеси, найти предельную твердую растворимость примеси и температуру предельной растворимости.

Рассчитать и построить распределение указанной выше примеси (Ga) в полупроводнике после диффузионного отжига при различных условия диффузии:

при условии бесконечного источника примеси на поверхности пластины и при температуре, соответствующей максимальной растворимости примеси в полупроводнике; время диффузии 30 мин.

при температуре 950 оС; время диффузии 30 мин.

после перераспределения примеси, накопленной в приповерхностном слое полупроводника при температуре 950 оС и времени диффузии 30 мин . Условия перераспределения - полностью отражающая граница, температура 1150 оС, время 2 часа.

Срок сдачи законченной работы руководителю - июнь 1998 г.

Преподаватель........................................Б.М. Шишлянников

Студент .....................................................Н.Е. Родин

 

Реферат.

 

В курсовом проекте производится расчет распределения примеси вдоль слитка кремния зонной плавкой. Расчет производится для трех примесей (Ga,P и Sb) для трех скоростей (Vкр =1,5 ; 5 и 15 мм/мин). Кроме того расчет распределения Ga в кремнии после диффузионного отжига при различных условиях диффузии.

Курсовая работа содержит графики распределения примеси как при зонной плавке, так и при диффузии.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Содержание.

Введение…………………………………………………………………51.Расчетная часть………………………………………………………..61.1Описание процесса зонной плавки и ее математическая модель……61.2Расчет распределения примеси вдоль слитка кремния после зонной плавки (один проход расплавленной зоной)………………………..

101.2.1Расчет распределения Si-Ga……………………………………………101.2.2Расчет распределения Si-P……………………………………………...131.2.3Расчет распределения Si-Sb…………………………………………….141.3Распределение примесей после диффузии…………………………….181.3.1Распределение примеси при диффузии из полубесконечного пространства (диффузия из концентрационного порога)………………..

211.3.2 Распределение примеси при диффузии из постоянного источника в полубесконечное тело…………………………………………………..

221.3.3Распределение примеси при диффузии из слоя конечной толщины (диффузия из ограниченного источника) в полубесконечное тело с отражающей границей………………………………………………….

 

241.3.4Распределение примеси при диффузии из бесконечно тонкого слоя в полубесконечное тело с отражающей границей……………………

251.4Расчет распределения примеси после диффузионного легирования.281.4.1Диффузия из бесконечного источника примеси на поверхности пластины и при температуре, соответствующей максимальной растворимости примеси в полупроводнике; время диффузии 30мин………

 

281.4.2Диффузия из бесконечного источника примеси на поверхности пластины при Т=9500 С, и времени диффузии 30 мин……………….

291.4.3Распределение примеси после перераспределения примеси накопленной в приповерхностном слое полупроводника при Т=950ОС и времени диффузии 30мин. Условие перераспределения полностью отражающая граница. Т=1150ОС, время 2 часа……………………….

 

 

30Заключение……………………………………………………………...32Литература……………………………………………………………....33

 

 

 

 

 

Введение.

 

Каждое ве?/p>