Параметры устройства, измеряющего толщину покрытия объекта и его метрологические характеристики
Дипломная работа - Компьютеры, программирование
Другие дипломы по предмету Компьютеры, программирование
?корости распространения ультразвуковых волн, с возможностью редактирования;
библиотека преобразователей;
изменяемая дискретность 0,1 или 0.01;
толщиномер А1210 имеет переключаемые единицы измерения мм или дюймы;
трехуровневая индикация уровня акустического контакта;
индикатор уровня заряда батареи;
дополнительная функция помощи при выполнении, каких либо операций.
Таблица 3 Технические характеристики толщиномера А1210
ПараметрЗначениеДиапазоны измеряемых толщин (по стали):С пpеобpазователем S3567 2.5A0D10CL на 2.5 МГц от 0,7 до 300 ммС пpеобpазователем D1771 4.0A0D12CL на 4 МГц от 0,7 до 35 ммОсновная погрешность измерений:От 0,7 до 1,5 мм 0,1 ммОт 1,51 до 9,99 мм 0,05 ммОт 10,0 до 49,9 мм 0,1 ммОт 50,0 до 300,0 мм 0,2 ммДопустимая шероховатость поверхности Rz 160Минимальный радиус кривизны поверхности 10 ммДискретность измерения толщиныПри толщинах до 99,99 мм 0,1/0,01При толщинах от 100,0 мм 0,1Диапазон настроек скорости yльтpазвyка от 1000 до 9999 м/сТип дисплея антибликовый, цветной TFTПитание встроенная LiIon аккумуляторная батареяВремя непрерывной работы 10 чДиапазон рабочих температур от -20С до +50СГабаритные размеры электронного блока 157 х 70 х 23 ммМасса электронного блока 250 гСписок литературы
1Бакунов А.С., Калошин В.А., Рудаков А.С., Шубочкин С.Е. Толщиномер гальванических покрытий. - Дефектоскопия, 2004г, №6
Неразрушающий контроль. В 5 кн. Кн. 3. Электромагнитный контроль: практ. пособие / В.Г. Герасимов, А.Д. Покровский, В.В. Сухоруков; под. ред. В.В. Сухорукова. - М.: Высш. шк., 1992. - 312 с
Клюев, В.В. Неразрушающий контроль и диагностика [Текст]: Справочник / В. В Клюев, Ф. Р Соснин, А.В. Ковалев и др.; Под. ред.В. В. Клюева.2-е изд. испр. и доп. - М.: Машиностроение, 2003.656 с.
Сухоруков, В.В. Неразрушающий контроль [Текст]: в 5 кн. Кн.3. Электромагнитный контроль: Практ. пособие / В.Г. Герасимов, А.Д. Покровский, В.В. Сухоруков; Под ред.В. В. Сухорукова. - М.: Высш. шк., 1992. - 312 с.
Калантаров, П.Л. Раiет индуктивностей [Текст]: Справочная книга / П.Л. Калантаров, Л.А. Цейтлин.3-е изд., перераб. и доп. - Л.: Энегоатомиздат. Ленингр. отд-ние, 1986. - 488 с.
Соболев, В.С., Шкарлет, Ю.М. Накладные и экранные датчики [Текст]. - Новосибирск: Наука, 1967.
7Герасимов, В.Г. Неразрушающий контроль качества изделий электромагнитными методами [Текст]: монография / В.Г. Герасимов, Ю.Я. Останин, А.Д. Покровский [и др.]. - М.: Энергия, 1978. - 216 с.
8А. с.892200 СССР, Кл. G 01 B 7/06. Устройство для измерения толщины покрытий [Текст] / М.В. Гаршин [и др.]. - № 2676212/25-28; заявл.23.10.78; опубл.23.12.81, Бюл. № 47. - 3 с.: ил.
9А. с. SU 1416859 A1 СССР, 4 G 01 В 7/06. Вихретоковый толщиномер диэлектрических покрытий [Текст] / А.И. Потапов [и др.]. - № 4128811/25-28; заявл.05.08.86; опубл.15.08.88, Бюл. № 30. - 2 с.: ил.
Седалищев В.Н. Методические указания к лабораторным работам по дисциплине Основы метрологии, стандартизации и сертификации/ АлтГТУ им. И.И.Ползунова, - Барнаул, 2003. - 18с.