Методика анализа, прогнозирования и повышения надежности изделий микроэлектроники, работающих в условиях динамически изменяющихся знакопеременных нагрузок Назначение

Вид материала

Документы

Содержание Научно-техническое описание Схема распределения нагрузок и значения упругих напряжений в структурах интегральных измерительных тензопреобразователей

Подобный материал:

• Удк 004. 832. 3: 001. 8 Об одном варианте формализованного качественного анализа социологических, 164.86kb.
• Основы микроэлектроники (курс лекций), 1051.3kb.
• Создание нового класса крепежных изделий (резьбовые соединения) за счет поверхностного, 27.37kb.
• Методика прогнозирования налоговых и неналоговых доходов районного бюджета на очередной, 185.77kb.
• Интервальный метод оценки надежности подстанций, 115.06kb.
• Повышение надежности программного обеспечения ядерных радиационно-опасных объектов, 223.97kb.
• Методика управленческого анализа. Методика финансового анализа, 64.58kb.
• Микроэлектроника, 271.85kb.
• Методика анализа финансового состояния организации на предмет наличия признака фиктивного, 32.77kb.
• Разработать комплекс мероприятий для их ликвидации; в условиях сохранения тенденции, 121.9kb.

МОСКОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИСЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ

имени Н.Э. Баумана

КАЛУЖСКИЙ ФИЛИАЛ



Методика анализа, прогнозирования и повышения надежности изделий микроэлектроники, работающих в условиях динамически изменяющихся знакопеременных нагрузок

Назначение: Производство и эксплуатация полупроводниковых приборов и интегральных микросхем автомобильной электроники и приборостроения.

Научно-техническое описание: В результате исследования установлен один из механизмов деградации полупроводниковых структур, обусловленный возникновением дефектов кристаллической структуры материала под действием знакопеременных нагрузок. Предложена математическая модель описывающая изменение параметров приборов, обусловленных изменением температуры в диапазоне рабочих нагрузок и на ее основе разработана методика анализа среднего времени безотказной работы изделий автомобильной электроники по виду их функциональных характеристик.

- Определены и классифицированы причины параметрических отказов датчиков давления;

- Разработана методика контроля параметров интегральных измерительных тензо-преобразователей датчиков давления;

- Разработана и апробирована новая методика анализа, прогнозирования и повышения надежности изделий микроэлектроники.

- Разработаны и внедрены рекомендации на предприятиях автомобильной электроники «Автоэлектроника», «Автел» и «Автоприбор» в городе Калуге.






0,4810⁸ Па

0,7210⁸ Па

0,9610⁸ Па

1,2010⁸ Па

1,4410⁸ Па

1,6810⁸ Па

1,9210⁸ Па

2,1610⁸ Па

Схема распределения нагрузок и значения

упругих напряжений в структурах интегральных

измерительных тензопреобразователей

Преимущества: Разработанная методика впервые позволила осуществлять неразрушающий контроль качества и надежности полупроводниковых приборов работающих в условиях знакопеременных механических нагрузок. Кроме того, предложенные методы измерений позволяют определить наличие наноразмерных дефектных структур, определяющих потребительские свойства изделий в полупроводниковом материале электронных приборов.


248600, г. Калуга,

ул. Баженова, д. 2

Тел.: 8(4842) 79-78-28

Факс 8(4842) 79-78-28

e-mail: nis@bmstu-kaluga.ru

www.bmstu-kaluga.ru