Аннотация дисциплины «Рентгеновские и нейтронные методы исследования наноматериалов»
Вид материала | Документы |
- Составители программы: Вислогузов А. Н., канд техн наук, директор цнит севКавгту. Воронов, 572.94kb.
- «Рентгеновские методы бесконтактной неразрушающей комплексной диагностики слоистых, 355.29kb.
- Рабочая программа учебной дисциплины физико-химические методы получения и исследования, 209.21kb.
- Аннотация рабочей программы дисциплины агропочвоведение наименование дисциплины для, 39.78kb.
- Аннотация рабочей программы наименование дисциплины Методы исследования, контроля, 98.92kb.
- Механизм воздействия инфразвука на вариации магнитного поля земли, 48.07kb.
- Аннотация программы учебной дисциплины в1 Методы и средства исследования Цели и задачи, 18.2kb.
- Аннотация рабочей программы учебной дисциплины методы исследования в менеджменте Направление, 55.83kb.
- Аннотация программы учебной дисциплины «Методы и методология психолого-педагогического, 35.26kb.
- Аннотация рабочей программы дисциплины методы экологических исследований наименование, 27.1kb.
Аннотация дисциплины «Рентгеновские и нейтронные методы исследования наноматериалов»
Свойства наноматериалов определяются их структурой, для которой характерно обилие поверхностей раздела (межзеренных границ и тройных стыков – линий встречи трех зерен). Изучение структуры является одной из важнейших задач наноструктурного материаловедения. Основной элемент структуры – зерно или кристаллит, на которых могут когерентно рассеиваться рентгеновские лучи или нейтроны. Поэтому дифракционные методы исследования наноматериалов позволяют получить информацию о размере кристаллитов, о распределении зерен по размерам, о толщине и количестве слоев в многослойных нанообъектах.
В рамках данного курса студент получает знания об основах дифракционных методов исследования наноматериалов, о связи формы дифракционных максимумов с размерами областей когерентного рассеяния (размерами нанокристаллитов), об особенностях проведения эксперимента по дифракции рентгеновских лучей и нейтронов на объектах с малыми размерами кристаллитов. Особое внимание уделено интерпретации дифракционных данных, а именно математическим аспектам метода полнопрофильного анализа.
В результате освоения дисциплины студент приобретет навыки правильного выбора методов исследования наноструктур и различных нанообъектов, а также овладеет общими приёмами решения прикладных задач с использованием компьютерных программ.